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楼主: saventang

请高手指点如何改良其减振点

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发表于 2007-3-9 11:44 | 显示全部楼层
依照处理问题的经验,最好是能亲临现场,大家根据图片来发言,可能会有不全面的地方。
一、本振动试验中夹具的影响:从正弦和随机的控制谱图来看,我认为,夹具对这两个试验影响不一定是主要的。
      可请楼主按如下方法来试验:
       将硬盘从电脑上取下,将测量点改到压条上即压电脑的横梁上,测量夹具的响应曲线。
       将硬盘从电脑上取下,将测量点改到硬盘的固定点上。
        单独把硬盘放在夹具上进行相同条件的振动试验,并测量硬盘的响应曲线。
       对照四个不同的测量点的测量曲线,就可以判断是哪个因素引起共振了。几个因素是:硬盘自身问题(这个可能性最小)、夹具的频响差、机箱的安装结构强度不够、硬盘的减振器不好或减振器没有装好,造成在120Hz左右成为了共振。
       因为我拆开过工控机,工控机的硬盘下装有减振橡胶件,
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发表于 2007-3-9 16:53 | 显示全部楼层
如此大的尖锐的共振一定是一个大东西的共振,小小一个磁盘恐怕引不起如此大的峰,夹具共振可能性最大。
发表于 2007-3-24 09:36 | 显示全部楼层

现在硬盘的振动测量曲线如何

saventang :你好!请问现在硬盘的振动测量曲线如何呢?
发表于 2007-3-24 11:24 | 显示全部楼层

测量点的共振与夹具无关

在本帖子的讨论中,有意见认为硬盘测量点上共振是因为夹具的刚性不够造成的。我的看法是硬盘测量点上共振与夹具的刚性没有关系。
      一、振动试验的控制点是在台面上,夹具(是指压条和螺丝 )与台面是刚性连接即螺丝连接的,如果是压条的在150Hz左右共振时,必然会对台面造成影响,即会在控制点曲线上反映出来的,控制点的曲线相当的平稳,看不出试件与台面夹具有共振的迹象。
      二、格子状的台面的上限频率一般是在350Hz,压条用螺丝连接的共振频率一般也可可以超过500Hz,并且是试验的量级不大,才1G,因此说夹具产生共振最大的原因是夹具或台面的螺丝没有锁紧,造成连接刚度不够。
      三、最关键的一点是测量点是在硬盘上的,而不是在夹具上,而图片显示,夹具是固定在机器的外箱上,并不是固定是硬盘上,即从力的传递或连接方式来说,硬盘与夹具并没有直接的刚性连接,也即夹具与硬盘没有直接的力的传递,因此硬盘上测量的数据不能代表是夹具的振动数据。
      四、真实的振动试验是个多自由度的系统,只有在假设系统的刚度足够大时,才能以一点代表全面。 在现实与假设不相符合时,就会得到错误的结论了。
发表于 2007-4-27 16:19 | 显示全部楼层

我也来说说

如果测点是在硬盘上,那么在这个振动系统中,在那两个峰值处,硬盘就参入在共振中,只不过是不是系统的最大振幅处和夹具有关.另外这个试验做的不是硬盘本身的共振.我们不是做模态,夹具做的好当做好,可是我们换个思路,能不能夹具和振动台看成一体,那么我们做产品的振动考验时不就轻松多了

[ 本帖最后由 yezichang 于 2007-4-27 16:21 编辑 ]
发表于 2007-4-29 16:32 | 显示全部楼层
我觉得lz应该先看看这个硬盘的spec,看看试验时硬盘的振动响应是否超过的其spec规定的范围。
我们通常在做系统开机试验的规范扫频是0.25G,而你的都在2G了,做随机频谱密度在0.001g2/Hz左右,而lz的是0.002,我怀疑就算系统设计完美,没有共振峰,系统也未必能承受这么苛刻的试验。
看来优化难度比较大,需要做减振,要较大的成本。

关于夹具:
好的夹具是试验结果可信度的根本,有时夹具很难做到在整个试验频率范围内不发生共振,所以应该选择较高阻尼的材料,如2024铝。整个个夹具质量要比样品轻很多,这样就算夹具有共振对样品影响也不会很大。评价夹具的好坏要从整个系统来考量,因为测试参数,样品,夹置方式对夹具共振频率都会有较大影响。在试验进行时监测夹具和样品接触部位的振动情况才是根本。

关于减振:
环境的振动情况超过了硬盘的spec要求,必然需要做减振。如果把系统和硬盘的连接部分简化成弹簧,从扫频图上看共振峰发生在140Hz左右,需要把这个共振峰移到50Hz以下对硬盘来说伤害相对比较小的频率范围,需要减小这个弹簧的k值。优化后系统对盘施加的振动在50×1.414=70Hz后进入减振范围,频率越高减振越明显。

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发表于 2007-4-30 18:51 | 显示全部楼层
大家注意: 控制点是在扩展台面的(台面是800*800MM),而测量点是在硬盘上,而在工控机的硬盘与电脑机箱的连接是通过减振器来连接的,即硬盘与机箱并不是刚性连接的。因此硬盘上的测量曲线并不能代表控制点的振动状况。
从此测量曲线说明硬盘的减振动装置应做改善了。
发表于 2007-5-6 10:55 | 显示全部楼层
我觉得还是夹具的原因,明显太大了。建议先做一个夹具的振动试验,参数和谱线不变。如果仍然出现类似的共振现象,那就可以验证了。
如果确实是夹具的原因,那我觉得应该减少它的质量,也就是做的再小巧些,这样它的一阶共振频率可以提高一些。
发表于 2007-5-6 23:45 | 显示全部楼层

回复 #23 gavin 的帖子

请注意: 测量点是在硬盘上,而不是在夹具上.
发表于 2007-5-7 06:22 | 显示全部楼层
所以#23建议先做一个夹具的振动试验,排除一下,思路是对的。
发表于 2007-6-12 10:47 | 显示全部楼层
 “看图中谱线,此控制软件应该是我们公司产品,有具体软件方面问题可以与我公司技术支持部门联系,将给予你最完善的解决方案”

loren_xia ,请问我使用的LDS-Dactron控制器是你们公司的吗?如果是,想请问两个问题:
1.在测试曲线中,可以改变曲线的粗细和名称吗?比如:将input 3(f) 改成HDD或者其他;
2.我可以将相同条件下连续两次测试的曲线,集合在一个界面中显示出来,以便直观的比较吗?
发表于 2007-6-12 10:58 | 显示全部楼层
如果,排除测试固定及夹具的原因,单单从保护硬盘的角度讲,我们公司倒是专门提供高阻尼的减振材料,及减振方案,对HDD的保护我们公司有丰富的经验。如果有需要可以浏览我公司网站,或直接咨询。www.earsc.com电,话:0755-83591843
发表于 2007-6-12 12:40 | 显示全部楼层

回复 #26 tandy_tan 的帖子

软件设置中可以改变曲线的颜色.
发表于 2007-6-13 20:12 | 显示全部楼层
本帖最后由 wdhd 于 2016-4-26 13:28 编辑

  发表一下个人观点:
  楼主的问题是在测试过程中的问题是在试验过程中G值太大,导致试验宕机。
  那先明确一个问题,工厂在做这种试验时,sensor不是接在硬盘上,而是接在振动平台上,这样符合国际和国内对产品规格一个统一的认知,夹具不合理那当然是自身的问题了。
  楼主用整台电脑来验证HDD的振动频率,是否有试验目的不明的问题:
  1.既然是验HDD,那除了固定电脑的夹具不合理外,其整台电脑是否也可看作夹具呢,这样看的话,整台电脑也是不需要的。只需对HDD设计一个小夹具就可以了。
  简单地说,对什么产品做验证,直接对该产品作一个合理的夹具就好了,多余的东西一概不要。
  且sensor是接在振动机的平台上。理论上来说,能量从振动平台上要100%传递到产品上,但实际上是做不到的,能做到的是要将能量损失控制到一个误差范围内。如果这也做不到,说明夹具很有问题,先解决夹具的问题再说。
发表于 2007-6-13 23:27 | 显示全部楼层

回复 #29 hslj4742 的帖子

楼主的振动试验里有两个传感器,控制点的传感器从图片中可以看到是在台面上,格子状的台面上限频率一般是在350Hz以上,使用的上限频率是350Hz,注意看控制点的曲线是定加速度,实际的控制曲线是条直线,其实就以说明了控制点的振动控制是正常的。
第二点是测量点,是安装在硬盘上的,不知道大家有没有看过工控机的硬盘并不是直接固定机箱上的,而是通过减振器(缓冲装置)而与机箱连接的。
      因此硬盘上的测量曲线是硬盘缓冲装置的振动特性曲线。这条曲线与台面和夹具没有任何关系。
      大家在观念上要转变下:一个物体进行振动试验时各部分的振动幅值并不相同的,不能用测量点振动曲线来反推控制点,因为我们的试件并不是一个绝对的刚体。
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