硬盘的S.M.A.R.T 会影响到笔记本冲击测试结果么？

Jonah_K500

在做笔记本电脑的冲击和振动测试时，很多客户要求屏蔽硬盘的SMART (Self-Monitoring, Analysis & Report Technology) 功能。
我只知道SMART是一个类似于自动侦测错误的功能。具体细节不很了解。:@L

在此请教一下各位大虾：
      为什么那些客户要求屏蔽SMART功能?
      有没有那位大虾在有作过这方面的研究，如果不屏蔽结果会差多少？

谢谢各位先

szdlliuzm

能不能把要求屏蔽SMART功能时的振动\冲击量级发上来呢?

Jonah_K500

不好意思我不知道大哥说的振动\冲击量级是什么意思:@L
这里要求的测试条件是：
Shock:   142G 2ms
Vibration: 0.66Grms

多谢指教:@)

szdlliuzm

试验量级就是所说的试验条件了.
从测试条件 Shock:   142G 2ms  Vibration: 0.66Grms
这两个条件应是电脑在工作状态时的测试条件了.即模拟电脑在运输环境中应能正常工作了,

szdlliuzm

SBS振动冲击测试
为了确保在苛刻的可移动环境下正常工作，每种新的 SBS 产品在开发过程中都要经过
一系列振动测试，该测试以 MIL-STD-202F 为依据。
初始设定振动冲击测试基准时，将 SBS 产品置于应力逐渐增大的环境，直到出现故障。然后在这一应力水平下重复测试，以确保产品全部满足这一规范。这个过程确定的振动冲击将用于对新产品的振动冲击测试；所有被测的 SBS 产品都通过了此法的振动冲击测试，许多产品经受更为严厉的条件仍没有故障出现。

随机振动：
产品按照 MIL-STD-202F 方式214A，表214-I条件D的说明，沿每个轴作5分钟随
机振动，这样等同于沿每个轴作介于100Hz~1000Hz 11.95G RMS的随机振动。在测试过程中，被测部件必须可以操作，并实际运行各硬件系统的功能诊断程序：包括由DOS自动、
批处理引导的对硬盘、DiskOnChip（安装在SSD插座上）或者以太网和软盘驱动器上的文件进行读写操作。这一测试流程持续进行以验证系统模块的功能与电缆连接的完整性。这个测试的结果也可以验证CPU、存贮器和、I/O 接口的功能。外设（以太网服务器、硬盘、软盘）安装在振动平台附近，不经过测试。
SysCentreModule 和 SysExpandModule 产品——连接 SCM 和 SEM 产品的扁平电缆靠近连接器附于振动平台以减轻应力。电缆足够长可以连接没有安装在平台上的外设，电缆并不运动。使用时，DiskOnChip芯片用一条紧固条将其固定在CPU 板的SSD 插座上。

机械冲击：
机械冲击测试按照MIL-STD-202F 、方式213B、表213-1、条件A 的方式。限定分别沿三个轴做三次50G的冲击（脉冲11ms 持续时间、半正弦波形）。
被测部件安装于振动机器上，经受峰值为50g、1ms 持续时间、半正弦波形的振动脉冲。沿三个相互垂直的轴每个方向振动三次（共18次振动）。在沿每个轴的两个方向（正向和负向）冲击后，产品将进行与前面描述的随机振动测试相同的功能测试。

Jonah_K500

多谢大哥指导。

您多次提到MIL-STD-202F,不知道是否有这个文件可以供小弟参考一下？
谢谢。

[ 本帖最后由 Jonah_K500 于 2007-8-21 16:47 编辑 ]

Jonah_K500

原帖由 szdlliuzm 于 2007-8-21 13:21 发表
SBS振动冲击测试
为了确保在苛刻的可移动环境下正常工作，每种新的 SBS 产品在开发过程中都要经过
一系列振动测试，该测试以 MIL-STD-202F 为依据。
初始设定振动冲击测试基准时，将 SBS 产品置于应力逐渐增 ...

不知道刘兄对11ms是如何理解的。在很多冲击测试用的都是2ms,为什么Mil-STD要定为11ms呢:@L

clark

原帖由 Jonah_K500 于 2007-8-21 16:50 发表



不知道刘兄对11ms是如何理解的。在很多冲击测试用的都是2ms,为什么Mil-STD要定为11ms呢:@L

11S一般是方波 2S是半正弦波.

xyxiang1

楼上的此言有些不对，没有这种说话。
50G，11ms就是一个很经典的半弦波冲击条件呀。

xyxiang1

关于MIL STD-202F的标准，我手上刚好有一份，可以发邮件联系我，我可以传一份给你。
论坛上不允许上传资料。
xyxiang1@126.com

ciluya

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能不能给我也发一份，谢谢了，miao19870815@126.com