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3rd DIC 数字图像相关技术发展趋势研讨会-上海站-20180517

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发表于 2018-5-7 11:43 | 显示全部楼层 |阅读模式
学术会议
会议名称: 3rd DIC 数字图像相关技术发展趋势研讨会-上海站-20180517
所属学科: 力学
会议类型: 国内会议
论文是否检索:  
开始时间: 2018-05-17
结束时间: 2018-05-17
会议地点: 上海
主办单位: 美国CSI&研索仪器上海
承办单位:
摘要截稿时间:
全文截稿时间:
联系人: 潘栋梁
联系电话: 13426480688
电子邮件: pan.d@acqtec.com
通讯地址: 上海
邮编: -
网址: http://www.acqtec.com/article/detail/102

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      3rd DIC 数字图像相关技术发展趋势研讨会-上海站-20180517
DIC 数字图像相关技术(Digital Image Correlation)源自美国南卡罗莱纳大学(USC),其衍生的相关测量技术;全场应变、变形、位移、振幅、模态等信息的测量和获取,在全球军事、核电、航空航天、汽车交通、土木结构、材料部件等领域得到广泛应用。中国已有越来越多的用户开始了解和使用DIC 测量技术及产品;各类高校院所、科研机构、及工业领域都有深入应用,迄今该技术在国内已有超过数百家客户应用,并取得卓有成效的科研成果。为优化中国区用户服务,促进DIC 技术发展及学术成果分享,美国CorrelatedSolutions, Inc (CSI)公司暨中国代理商研索仪器科技(上海)有限公司将于2018 年5 月17日在中国上海举办2018 年新一期技术发展趋势研讨会。本届会议将邀请国内外专家学者与用户就DIC 技术发展、成功经验与新领域应用等方面开展广泛交流。同时现场将有设备演示活动以供与会代表参观。
在此,我们诚挚邀请关注光学测量技术及应用的各位专家学者及各界人士莅临!
会议议程.png
会务联系报名: (本次会议不收取任何会务费,住宿及交通自理)
联系人:潘栋梁 134 2648 0688 Pan.dl@acqtec.com
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发表于 2018-5-7 15:01 | 显示全部楼层
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